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簡(jiǎn)要描述:圣德科Santec高精度可調(diào)諧激光光源是專(zhuān)為光通信研發(fā)與測(cè)試設(shè)計(jì)的高精度可調(diào)諧激光光源,由美佳特科技供應(yīng)。其覆蓋 1480-1640nm C+L 波段,具備 ±1pm 超高波長(zhǎng)精度與 ±0.01dB 功率穩(wěn)定性,支持 100nm/s 高速掃描模式。設(shè)備集成低偏振相關(guān)損耗(PDL<0.05dB)與內(nèi)置波長(zhǎng)校準(zhǔn)功能,無(wú)需額外校準(zhǔn)工具,操作便捷。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Santec/日本 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
圣德科Santec高精度可調(diào)諧激光光源
1. 品牌簡(jiǎn)介
寬波段覆蓋:精準(zhǔn)覆蓋 1480-1640nm C+L 波段,無(wú)需更換設(shè)備即可滿(mǎn)足光通信領(lǐng)域多波段測(cè)試需求,適配主流光通信系統(tǒng)測(cè)試場(chǎng)景。
超高精度與穩(wěn)定性:±1pm 波長(zhǎng)精度確保波長(zhǎng)輸出精準(zhǔn),避免波長(zhǎng)偏差影響測(cè)試數(shù)據(jù);±0.01dB 功率穩(wěn)定性,保障長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試中功率輸出平穩(wěn),提升測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性。
高速掃描能力:支持 100nm/s 高速掃描模式,相比普通設(shè)備大幅縮短掃描時(shí)間,尤其適合批量測(cè)試或高效研發(fā)場(chǎng)景,提升整體工作效率。
低偏振相關(guān)損耗:集成低 PDL 設(shè)計(jì)(PDL<0.05dB),減少偏振變化對(duì)激光輸出的影響,確保在不同偏振狀態(tài)下測(cè)試結(jié)果的一致性。
內(nèi)置波長(zhǎng)校準(zhǔn):自帶波長(zhǎng)校準(zhǔn)功能,無(wú)需額外搭配校準(zhǔn)設(shè)備,簡(jiǎn)化操作流程,降低使用門(mén)檻,同時(shí)保障長(zhǎng)期使用中的波長(zhǎng)精度,減少維護(hù)成本。
便捷服務(wù)支持:通過(guò)美佳特科技可獲取 TSL510 手冊(cè)、中文說(shuō)明書(shū),便于快速熟悉設(shè)備操作;同時(shí)提供價(jià)格咨詢(xún)服務(wù),為采購(gòu)決策提供清晰參考。
光通信研發(fā)場(chǎng)景:適用于光通信模塊、光傳輸系統(tǒng)的研發(fā)過(guò)程,可提供精準(zhǔn)穩(wěn)定的激光光源,助力研發(fā)人員開(kāi)展波長(zhǎng)特性、功率傳輸?shù)刃阅軠y(cè)試,加速研發(fā)進(jìn)度。
DWDM 測(cè)試場(chǎng)景:在密集波分復(fù)用(DWDM)系統(tǒng)測(cè)試中,能夠覆蓋多波段波長(zhǎng),支持高速掃描,可高效完成 DWDM 系統(tǒng)的信道測(cè)試、插損測(cè)試等,保障系統(tǒng)傳輸質(zhì)量。
光器件表征場(chǎng)景:用于光耦合器、光濾波器、光開(kāi)關(guān)等光器件的性能表征,憑借超高波長(zhǎng)精度與低 PDL,精準(zhǔn)測(cè)量器件的波長(zhǎng)響應(yīng)、偏振相關(guān)特性等關(guān)鍵參數(shù),為器件質(zhì)量把控提供依據(jù)。
硅光芯片測(cè)試場(chǎng)景:適配硅光芯片的研發(fā)與生產(chǎn)測(cè)試,硅光芯片對(duì)激光精度要求較高,Santec TSL510 的 ±1pm 波長(zhǎng)精度與穩(wěn)定功率輸出,可滿(mǎn)足硅光芯片的光性能測(cè)試需求,助力硅光技術(shù)產(chǎn)業(yè)化。
實(shí)驗(yàn)室精密測(cè)試場(chǎng)景:科研實(shí)驗(yàn)室開(kāi)展光學(xué)相關(guān)研究時(shí),需要高精度、高穩(wěn)定的激光光源,Santec TSL510 可作為核心測(cè)試設(shè)備,支持各類(lèi)精密光學(xué)實(shí)驗(yàn),為科研數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性提供保障。
生產(chǎn)產(chǎn)線(xiàn)質(zhì)檢場(chǎng)景:在光通信設(shè)備、光器件的生產(chǎn)產(chǎn)線(xiàn)中,可作為質(zhì)檢設(shè)備,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行批量性能測(cè)試,高速掃描功能提升質(zhì)檢效率,高精度特性確保質(zhì)檢結(jié)果可靠,幫助企業(yè)把控產(chǎn)品出廠(chǎng)質(zhì)量。
產(chǎn)品咨詢(xún)
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