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KEYSIGHT是德采樣示波器光/ 電時鐘恢復模塊

簡要描述:KEYSIGHT是德采樣示波器光/ 電時鐘恢復模塊 N1077B,支持 125MBd-64GBd 速率,光 / 電雙輸入,850-1620nm 光波長適配。含兩種時鐘恢復模式,環(huán)路帶寬 20MHz,100fs 低抖動,可選配均衡器與抖動分析,適配主流高速協(xié)議,滿足高速信號測試需求。

  • 產品型號:N1077B
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2025-11-11
  • 訪  問  量:35

詳細介紹

品牌KEYSIGHT/美國是德產地類別進口
類型數字示波器應用領域電子/電池
輸入類型支持光 / 電(單模 / 多模)信號輸入光波長范圍一般支持 850 - 1620nm(單模光纖)
環(huán)路帶寬環(huán)路帶寬可高達 20MHz

KEYSIGHT是德采樣示波器光/ 電時鐘恢復模塊 N1077B

(一)產品簡介

  1. 核心定位:KEYSIGHT N1077B 是專為采樣示波器設計的高性能光 / 電時鐘恢復模塊,聚焦高速串行信號測試領域,為研發(fā)、生產及質檢環(huán)節(jié)提供精準的時鐘恢復解決方案,助力用戶高效捕獲與分析高速信號特性。

  1. 核心優(yōu)勢:具備寬數據速率覆蓋、多輸入類型支持、低抖動輸出及豐富功能擴展特性,可適配多種高速測試場景,兼容主流行業(yè)協(xié)議,滿足不同用戶對高速信號測試的嚴苛要求。

  1. 品牌保障:作為是德科技(KEYSIGHT)旗下產品,依托品牌在測試測量領域的技術積累,模塊在穩(wěn)定性、準確性與可靠性上均達到行業(yè)高標準,為用戶測試工作保駕護航。

(二)產品特點
  1. 寬幅速率覆蓋:支持 125MBd 至 64GBd 的連續(xù)數據速率,可精準匹配 1.0Gb/s-32Gb/s(NRZ)及 64Gb/s(PAM4)信號測試需求,無論是中低速還是高速信號場景,均能穩(wěn)定發(fā)揮作用,無需頻繁更換設備。

  1. 靈活輸入支持:兼容光 / 電雙輸入類型,光輸入適配單模 / 多模光纖,光波長范圍覆蓋 850-1620nm(單模光纖);電輸入采用差分或單端設計,支持交流耦合與 50Ω 阻抗,可靈活對接不同類型的測試信號源。

  1. 高效時鐘恢復:搭載 Golden PLL 和 Data Recovery 兩種核心時鐘恢復模式,能根據不同信號特性選擇適配模式,確保時鐘恢復的精準度;同時環(huán)路帶寬可高達 20MHz,快速響應信號變化,提升測試效率。

  1. 低抖動輸出:輸出時鐘抖動典型值低至 100fs 級別,有效減少時鐘信號干擾,保障高速信號測試過程中數據捕獲的準確性,為后續(xù)信號分析提供高質量的時鐘基準。

  1. 豐富功能擴展:可選配集成可變均衡器(選件 EVA),可對信號衰減進行補償,優(yōu)化信號質量;同時具備抖動頻譜分析功能(選件 JSA),助力用戶深入分析信號抖動特性,挖掘信號問題根源。

(三)產品型號
  1. 基礎型號:KEYSIGHT是德采樣示波器光/ 電時鐘恢復模塊(標準版),具備核心的時鐘恢復功能、光 / 電輸入支持及寬速率覆蓋能力,滿足常規(guī)高速信號測試需求。

  1. 擴展型號:

  • KEYSIGHT N1077B(含選件 EVA):在標準版基礎上增加可變均衡器功能,適用于信號傳輸過程中存在衰減的場景,可通過均衡器補償信號損失,提升測試準確性。

  • KEYSIGHT N1077B(含選件 JSA):集成抖動頻譜分析功能,針對需要深入分析信號抖動來源與特性的用戶,可精準捕獲抖動頻譜信息,輔助問題排查與優(yōu)化。

  • KEYSIGHT N1077B(含選件 EVA+JSA):同時具備可變均衡器與抖動頻譜分析功能,功能最為全面,適用于對信號質量要求高、測試場景復雜的高測試需求。

(四)應用場景
  1. 通信行業(yè):適用于 100/400 Gigabit Ethernet 等高速以太網設備的研發(fā)與測試,可對設備傳輸的高速信號進行時鐘恢復與分析,驗證設備信號傳輸性能,確保設備符合行業(yè)標準。

  1. 存儲行業(yè):支持 SATA、SAS 等存儲接口協(xié)議,可應用于固態(tài)硬盤、存儲陣列等存儲設備的測試,助力研發(fā)人員檢測存儲設備在高速數據傳輸過程中的信號穩(wěn)定性,優(yōu)化設備存儲性能。

  1. 計算機行業(yè):兼容 PCIe 4.0/5.0 等高速計算機總線協(xié)議,可用于主板、顯卡、服務器等計算機硬件的測試,幫助工程師排查高速總線傳輸中的信號問題,提升硬件設備的運行穩(wěn)定性與數據傳輸效率。

  1. 電子研發(fā)領域:在高速芯片、射頻模塊等電子元器件的研發(fā)過程中,可作為關鍵測試輔助設備,對元器件輸出的高速信號進行時鐘恢復與特性分析,為元器件性能優(yōu)化與質量管控提供數據支撐。

  1. 質檢與認證領域:第三方檢測機構及企業(yè)質檢部門可利用該模塊,對高速電子設備進行合規(guī)性測試與質量抽檢,確保產品符合相關技術標準與市場準入要求,提升產品市場競爭力。



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